特 點：
1.分辨率高，靈敏度高，抗干擾能力強，對試樣無破壞，實驗技術較為簡單，試樣的制備技術也不復雜

2.研究的對象可以是導體、半導體或絕緣體，試樣可以是晶體或非晶體態(tài)的體材料、薄膜或固體的表層，也可以是粉末、超細小顆粒，甚至是冷凍的溶液。

A.整體性能
1.等加速、等速、正弦、重點區(qū)四種驅(qū)動
2.速度范圍：±200mm/s
3.標準α－Fe內(nèi)雙線寬≤0.24mm/s

B.探測器總成
1.氣體正比計數(shù)管、電荷前放、線性脈沖
   放大器、高壓電源、低壓電源一體機
2.能量分辨率優(yōu)于10%（14.4keV處）
3.穩(wěn)定性好于±1%

C.數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
1.函數(shù)發(fā)生器
   正弦、三角、階梯波、人工設定波形輸出
   可驅(qū)動512/1024/2048/4096道多定標譜儀
2.多道分析器
   具有PHA、MSC、MSC(Window)功能
   道數(shù)：512/1024/2048/4096
   Wissel軟件，圖形界面

配 置：
儀器電源；信號發(fā)生器；電磁驅(qū)動器；鎖相放大器；X線探頭；電腦（自配）、打印機（自配）