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簡單介紹：
HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀軟件可以計(jì)算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點(diǎn)的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。
詳情介紹：
HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀軟件可以計(jì)算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點(diǎn)的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。原理：使用180度魚眼鏡頭和高清晰度數(shù)碼相機(jī)從植物冠層下方或森林地面向上取像, 再將數(shù)碼相機(jī)的高清晰度影像載入軟件，進(jìn)行分析處理。
HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀技術(shù)規(guī)格：
| 圖像文件類型 | BMP、JPEG、TIF、Photo CD |
| 圖像分辨率 | 512×512——4368×2912（和數(shù)碼相機(jī)有關(guān)） |
| 鏡頭變形 | 能多種相關(guān)天頂角和光線距離 |
| 直射光模型 | 簡單的空氣傳遞，由用戶設(shè)置 |
| 散射光模型 | 統(tǒng)一或標(biāo)準(zhǔn)陰天 |
| 數(shù)據(jù)輸出 | Excel兼容表格格式 |
| 總像素 | 1510萬像素 |
| 支持圖片分辨率 | 4368×2912像素 |
| 魚眼透鏡視角 | 180° |
| 存儲(chǔ)容量 | 2GB，可擴(kuò)展 |
| 可伸縮單臂支架高度 | 0.69~1.66米 |
| 三腳架高度 | 1.73米 |
| 操作溫度 | +5~+55℃ |
HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀輸出參數(shù)：
- ·天空幾何：質(zhì)心，立體角和像素計(jì)算用于每個(gè)天空扇區(qū)；
- ·間隙粒級：比例的可見天空扇區(qū)；
- ·葉面積指數(shù)：天空扇區(qū)或全部數(shù)值；
- ·太陽輻射：直射和散射，冠層上方和下方，能量或質(zhì)量單位；
- ·位置因數(shù)：直接，間接（散射），全部；
- ·時(shí)間序列和Sunflecks：可查看日期的日盤（半陰影作用）和太陽輻射，用戶自定義的采樣間隔時(shí)間或sunfleck順序；
- ·可選余弦修正：可用任何方位的截取表面；
- ·全部數(shù)值：大部分輸出能將天空扇區(qū)表格化，集合到單個(gè)全天空或年數(shù)值中。
HemiView 數(shù)字植物冠層分析儀特點(diǎn)：
- ·交互式圖示定位工具：精準(zhǔn)記錄的圖像半球縱坐標(biāo)系統(tǒng)。補(bǔ)償磁場偏差；
- ·支持圖像分類：強(qiáng)度區(qū)分界限和干擾像素。圖像按照實(shí)時(shí)更新分類；
- ·圖像可多重和拆分查看：分類和色彩/灰色等比率查看，或?qū)⒄鶊D像拆分開瀏覽；
- ·圖像底片：圖像可轉(zhuǎn)換為底片模式進(jìn)行查看和分析；
- ·可給不同的天空區(qū)域定義號碼：天頂角和方位角定義范圍；
- ·單個(gè)樹的葉面積：直接可通過HemiView輸出單個(gè)樹的LAI；
- ·分析局部圖像：可以將圖像中不需要參與分析的部分排除；
- ·地點(diǎn)，鏡頭和太陽模型的參數(shù)：用戶可設(shè)定地點(diǎn)，鏡頭和太陽模式應(yīng)用到任何一個(gè)圖像中，方便從列表中選擇；
- ·定義鏡頭的特點(diǎn)：鏡頭方程是當(dāng)用戶使用了當(dāng)前鏡頭和老款類型提供的ΔT；
- ·輸出：分析結(jié)果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式；
- ·自定義輸出參數(shù)：用戶可根據(jù)不同的圖像定義不同的輸出參數(shù)。
產(chǎn)地：英國
